微小オープン／ショート・部品実装不良を高精度に検知
インサーキットテスター（ICT）は、実装後のプリント基板に通電することなく、各パターンのショート/オープン、抵抗・コンデンサ・コイルの定数異常、ICピンの半田浮き等を高速に検出する検査方式です。
トークでは、治具本体（ピンボード）の高精度な機械加工・配線だけでなく、検査プログラムの作成および自社実機デバッグまでトータルに対応。お客様の生産立ち上げ期間を大幅に短縮します。
高密度・狭ピッチ実装への技術対応
- 微細パッド・狭ピッチ対応：0.4mm〜0.5mmピッチの極小テストポイントへも、高精度NC穴あけと極細プローブで確実なコンタクトを実現。
- 両面同時プロービング：基板両面に部品実装・テストポイントがある基板でも、上型・下型ピンボードによるワンアクション検査が可能。
- 耐フラックスプローブの選定：鉛フリー半田フラックスの膜を突き破る先端形状（クラウン型・鋭角型等）を最適選定し、誤判定を低減。
- データコンバート対応：テスコンから日置電機、協立への治具・プログラムデータの移行やリプレイスも柔軟にサポート。
対応可能なインサーキットテスター仕様
日置電機（HIOKI）仕様
1101、1102、1105、1220シリーズ等。
国内で高いシェアを持つHIOKI製テスター向けピンボードおよびデータ作成に幅広く対応。
テスコン（TESCON）仕様
POINT55MB、POINT30GX、POINT70、POINT88MB等。
長年の実績に基づく確実なピン配置と配線ノウハウを保有。
協立テストシステム仕様
FOCUS2000シリーズ等。
高密度ピンボードの機構設計からデバッグまで迅速に対応します。
その他各社テスター仕様
オカノ電機（OIT510Z、ZPC1500）、TAKAYA、パルステック（700シリーズ）、新電子（ESI-2002）等、各種専用テスターに対応。
※上記以外のテスターメーカーでも、ピンボード製作のみ（ハードウェア単体）であればほぼ全ての規格に対応可能です。お気軽にご相談ください。
インサーキットテスタ治具 製作実績例
標準的な片面コンタクト治具。確実な位置決めピン構造。
両面実装基板向けの上下同時プロービング機構。
高密度多ピン対応。接触圧バランスを緻密に調整。
長寿命プローブを採用した高耐久仕様ピンボード。
ICT治具 製作・納品の流れ
データ受領・解析
ガーバーデータ、部品表（BOM）、CAD座標データ等を受領し、テスト容易性を検証。
ピン配置・CAM設計
専用CAMによりプローブピン穴位置を自動生成し、干渉や配線経路を最適設計。
NC加工・植ピン・配線
高精度NCドリリングマシンで穴あけ加工後、プローブ植ピンおよびワイヤリング配線。
プログラム作成・検証
テスタープログラムを作成し、導通チェック・実機デバッグを経て合格品を出荷。